Kuunganishwa na mfumo wa uchunguzi

Kuchunguza mchakato mzima wa usindikaji wa sampuli na eneo la lengo chini ya microscope Kuweka sampuli kwenye mkono wa sampuli, wakati wa usindikaji wa sampuli, sampuli inaweza kuchunguzwa kwa muda halisi kupitia microscope ya stereo, angle ya uchunguzi inaweza kurekebishwa 0 ° hadi 60 °, au inaweza kurekebishwa hadi -30 °, kipimo cha umbali kinaweza kufanywa kupitia kipimo cha glasi. Leica EMTXP pia inakuja na mwanga mkali wa LED ili kupata uchunguzi bora wa kuona.
> Kuweka nafasi sahihi na kuandaa sampuli kwa maeneo madogo ya lengo
> Uchunguzi katika eneo kupitia Stereo Microscope
> Multifunctional mchakato wa mashine
> Automatic sampuli mchakato wa usindikaji kudhibiti
> Inaweza kupata athari polishing sawa kama kioo
> LED Mzunguko chanzo mwanga adjustable, 4 kugawanya sehemu chaguo

Iliyoundwa kwa ajili ya viwango vya microscale

Kuelekea, kukata, kusaga, polishing kwa malengo madogo ya mm na micron ni kazi ngumu, matatizo makubwa yanatokana na:
> Lengo ni ndogo sana na si rahisi kuchunguza
> Lengo sahihi, au ni vigumu kupima lengo
> Kusaga, polishing kwa nafasi maalum lengo mara nyingi kuchukua nguvu ya binadamu na muda
> Lengo ndogo ni rahisi kupoteza
> ukubwa wa sampuli ndogo, vigumu kwa uendeshaji, mara nyingi kuwa na kupanga mfuko kuzikwa

Integrated Microscopic Uchunguzi na mfumo wa picha

Microscope ya Leica M80
> Kubuni ya njia sambamba ya mwanga: kuunda njia sambamba ya mwanga kupitia lens kuu ya kati, anga la kuzingatia
> High Multiple azimio: wote variables chini ya ubora wa picha na nguvu ya mwanga imara
> Kubuni ergonomic: starehe ya matumizi, bila misuli mvutano na uchovu
Kamera ya Leica IC80 HD HD*
> Seamless kubuni: imewekwa kati ya kichwa cha macho na binoculars bila kuongeza picha au optoelectric
> Picha ya ubora wa juu: Kuhakikisha ubora wa picha na kupata picha bila reflection na microscope coaxial optical njia
> Kutoa picha dynamic HD, kuunganisha au kutenga kompyuta inaweza kutumika
4 Kugawanya sehemu mwanga adjustable LED mviringo chanzo cha mwanga
> Taa mbalimbali angle kuonyesha sampuli ya maelezo ndogo

Njia mbalimbali za kuandaa sampuli

Sampuli si kuhamishwa, tu kubadili zana
Hakuna haja ya kuhamisha sampuli nyuma na nyuma, ni muhimu tu kubadilisha zana ya kutibu sampuli ili kukamilisha mchakato wa kutibu sampuli, na mchakato wote wa kutibu sampuli unaweza kuchunguza kwa muda halisi kupitia microscope. Kwa masuala ya usalama, studio ambapo zana na sampuli ni pamoja na ufikiaji wa usalama wa uwazi, inaweza kuepuka operator kugusa sehemu ya kazi kwa tahadhari wakati wa mchakato wa kutibu sampuli, na kuzuia splashing ya vipande.
LEICA EM TXP inaweza kuchukua sampuli kama ifuatavyo:
> Kugaya
> Kukata
> Kusaga
> Polishing
> Kuchuma